国际IPC组织于2009年中公布了新的验证办法Method 2.6.27 “Thermal Stress, Convection Reflow Assembly Simulation”,似有欲取代传统的Thermal stress T288作法。此案一出,对于系统端使用者来说是一项福音,但对于PCB供货商来还说,却是雪上加霜,且其对产品的挑战将更为严苛。
在 PCBA无铅应用上的问题尚无法达致完满时,为因应环保需求,各国际组织又积极推动无卤素(Halogen Free) PCB开发应用,对此产业来说,冲击不小。PCB属性可以在上一波的RoHS转换中避过卤素总量管制的问题,此次无卤素化对于该产业已形成一个更为明显的 冲击。
对于转型所必须因应的材料特性改变,无卤素PCB的潜在问题包括了材质变硬变脆、铜箔结合力降低导致焊垫强度 (Pad Bond Strength) 降低、材质变硬导致钻孔质量不佳、灯芯效应增强,以致阳极性玻纤束漏电(Conductive Anode Filament,简称CAF)发生时间减短、高频特性不稳定、弹坑效应(Pad Cratering)...等状况,因此在设计验证的考虑上与以往传统的做法有所不同,需要设计Test Vehicle帮助产品验证。设计的考虑上为了克服弹坑效应以及Pad结合强度问题,使用SMD design将优于NSMD design,此对于过往的PCB设计上有不同的做法。PTH Pitch与排列亦为一重要之考虑点,目的在降低CAF发生的速度。
目前本公司已开发出一套针对无卤素PCB特性之验证方法(包括协助Test Vehicle之设计),可协助客户产品进行先期可靠度承认或产品固定抽样分析,协助客户能够顺利导入产品量产。