國際IPC組織于2009年中公布了新的驗證辦法Method 2.6.27 “Thermal Stress, Convection Reflow Assembly Simulation”,似有欲取代傳統的Thermal stress T288作法。此案一出,對于系統端使用者來說是一項福音,但對于PCB供貨商來還說,卻是雪上加霜,且其對産品的挑戰將更爲嚴苛。
在 PCBA無鉛應用上的問題尚無法達致完滿時,爲因應環保需求,各國際組織又積極推動無鹵素(Halogen Free) PCB開發應用,對此産業來說,衝擊不小。PCB屬性可以在上一波的RoHS轉換中避過鹵素總量管制的問題,此次無鹵素化對于該産業已形成一個更爲明顯的 衝擊。
對于轉型所必須因應的材料特性改變,無鹵素PCB的潛在問題包括了材質變硬變脆、銅箔結合力降低導致焊墊強度 (Pad Bond Strength) 降低、材質變硬導致鑽孔質量不佳、燈芯效應增強,以致陽極性玻纖束漏電(Conductive Anode Filament,簡稱CAF)發生時間減短、高頻特性不穩定、彈坑效應(Pad Cratering)...等狀況,因此在設計驗證的考慮上與以往傳統的做法有所不同,需要設計Test Vehicle幫助産品驗證。設計的考慮上爲了克服彈坑效應以及Pad結合強度問題,使用SMD design將優于NSMD design,此對于過往的PCB設計上有不同的做法。PTH Pitch與排列亦爲一重要之考慮點,目的在降低CAF發生的速度。
目前本公司已開發出一套針對無鹵素PCB特性之驗證方法(包括協助Test Vehicle之設計),可協助客戶産品進行先期可靠度承認或産品固定抽樣分析,協助客戶能夠順利導入産品量産。